Equipos
disponibles a través del Servicio de Ciencias y
Tecnología de
Microscopio
Electrónico de Transmisión de 200 KV, JEOL JEM-
Microscopio de
emisión de campo que trabaja a 200kV y posee
resolución estructural de 0.19nm. Este instrumento
está equipado con un detector de campo oscuro de alto
ángulo (HAADF), una unidad de barrido, Scanning Transmision
Electron Microscopy-STEM, un espectrómetro EELS GIF2000
(Gatan Imaging Filter) y un espectrómetro EDS Oxford INCA
Energy 2000 system.
Este sistema permite realizar imágenes HREM, HAADF, difracción de electrones y técnicas espectroscopicas como EELS y EDS. Se puede trabajar tanto en el modo convencional con un haz paralelo como en modo STEM permitiendo la caracterización nanoestructural y nanoanalitica.
Microscopio
Electrónico de Transmisión de 200 KV, JEOL
JEM-2011
Microscopio de
fuente Termoiónico (LaB6) con una resolución
estructural de 0.23nm. Dispone de un Sistema de Control FASTEM, una cámara CCD
GATAN 810 DUAL VIEW 600W y un sistema de microanalisis EDS Oxford INCA
Energy 2000 system acoplado con una unidad semi-STEM. Se dispone de
Portamuestras de Cambio Rápido, Portamuestras de Doble
Inclinación Frío y Portamuestras de Doble
Inclinación bajo Fondo Analítico.
Este sistema permite realizar imágenes HREM y difracción de electrones así como analisis EDS en modo HREM y semi-Stem.
Microscopio
Electrónico de Transmisión de 120 KV, JEOL
JEM-1200EX
Microscopio de
fuente Termoiónica que disponde de un portamuestras de
entrada lateral, Goniómetro de +/- 60º, unidad STEM, mod. EM-ASID 10. El
equipo tiene acoplada una cámara CCD MEGAVIEW III con
ordenador de control y software de Análisis de Imagen
así como un detector EDS Oxford INCA Energy 2000 system
Este sistema permite el registro de imágenes de contraste de difraccion para el análisis de defectos. Así como el registro de imágenes de red con resolucion estructural de 0.32nm
Microscopio
Electrónico de Barrido, SIRION FEG
Microscopio de
barrido con un filamento de emisión de campo con
resolución: 1,5 nm. El sistema tiene acoplada una
videoimpresora Sony, una cámara infra-roja CCD de
inspección estándar. Juego completo de
portamuestras. Fotomonitor de alta resolución.
El sistema proporciona imágenes de electrones secundarios así como imágenes de electrones retrodispersos que proporcionan información adicional sobre la química de las muestras.
Microscopio
Electrónico de Barrido, QUANTA 200
Microscopio de
barrido con filamento de emisión termoiónica
resolución: 3,5 nm. Este sistema permite trabajar en modos de
operación de alto y bajo vacío, hasta 20 torr.
Dispone de una cámara infra-roja CCD de
inspección estándar. Platina Peltier para
enfriamiento de muestras. Sistema de Microanálisis Phoenix
EDS.
Este sistema esta especialmente adaptado para el estudio de muestras biologicas, polímeros y muestras que precisan su observacion bajo vacio.
Dos sistemas para digitalización de
imágenes de microscopía y procesado digital. Integrados
por:
-
Cámara COHU 768 x 512 analógica, tarjeta SYNAPSE
de digitalización, software SEMPER 6+ para procesado.
-
Cámara Kappa 1024 x 1024 digital, sofware de procesado de
imágenes en Windows.
Dos estaciones
de trabajo Silicon Graphics:
- SG Indy MIPS
4400SC
- SG
Fuel 500MHz MIPS R14000
Estos equipos están dedicados a la simulación de imágenes de microscopía electrónica y espectroscopía ELNES (XANES) y EXELFS (EXAFS).
Dos ultramicrotomos
para la preparación de muestras de
microscopía electrónica en el área de
materiales:
-
Leica EM UC6
-Leica
Ultracut R
- Trimer Leica EM Trim
- Leica EM KM R2
Cámara
de guantes anaerobia para
preparación de muestras de microscopía
electrónica de transmisión.
Software de
desarrollo propio para el análisis de registros de
microscopía electrónica:
- EJEZ.- Análisis sistemático de fases a partir de imágenes con resolución atómica o diagramas de difracción.
- Rhodius.- Elaboración de superceldas complejas para cálculos de microscopía electrónica o aplicaciones alternativas.
- Servidor TEM-UCA: http://www2.uca.es/dept/cmat_qinor/catalisis/tem-uca.htm
Espectroscopio
de Emisión Atómica en plasma acoplado
inductivamente (ICP-AES) Thermo Elemental Iris Intrepid
· Utilizado para el análisis químico de la composición de catalizadores, particularmente metales (Rh, Pd, Pt, Au, Ru, …) y promotores (óxidos de Ce, Zr, La …).
Difractómetro
de Polvo Philips
· Estudios de difracción de rayos X, DRX, de muestras sólidas aplicado a la caracterización estructural de catalizadores.